Local de Origem: |
Zhejiang |
Nome da Marca: |
Inventchip |
Número do Modelo: |
IV2Q171R0D7 |
Quantidade mínima de embalagem: |
450 |
Símbolo |
Parâmetro |
valor |
unidade |
Condições de Teste |
Nota |
VDS |
Voltagem Drain-Source |
1700 |
V |
VGS=0V, ID=10μA |
|
VGSmax (Transiente) |
Tensão de pico máxima |
-10 a 23 |
V |
Ciclo de trabalho <1%, e largura do pulso <200ns |
|
VGSon |
Voltagem de ligação recomendada |
15 a 18 |
V |
|
|
VGSoff |
Voltagem de desligamento recomendada |
-5 a -2 |
V |
Valor típico -3,5V |
|
Identificação |
Corrente de drenagem (contínua) |
6.3 |
A |
VGS=18V, TC=25°C |
Fig. 23 |
Identificação |
Corrente de drenagem (contínua) |
4.8 |
A |
VGS=18V, TC=100°C |
Fig. 23 |
IDM |
Corrente de drenagem (em pulsos) |
15.7 |
A |
Largura de pulso limitada pelo SOA e Rθ(J-C) dinâmico |
Fig. 25, 26 |
ISM |
Corrente do diodo de corpo (em pulsos) |
15.7 |
A |
Largura de pulso limitada pelo SOA e Rθ(J-C) dinâmico |
Fig. 25, 26 |
Ptot |
Dissipação total de potência |
73 |
W |
TC=25°C |
Fig. 24 |
Tstg |
Intervalo de temperatura de armazenamento |
-55 a 175 |
°C |
||
Tj |
Temperatura de junção operacional |
-55 a 175 |
°C |
|
|
Símbolo |
Parâmetro |
valor |
unidade |
Nota |
Rθ(J-C) |
Resistência Térmica da Junção ao Caso |
2.05 |
°C/W |
Fig. 25 |
Símbolo |
Parâmetro |
valor |
unidade |
Condições de Teste |
Nota |
||
Mín. |
Typ. |
- Max, não. |
|||||
IDSS |
Corrente de drenagem com tensão zero no gate |
1 |
10 |
μA |
VDS=1700V, VGS=0V |
||
IGSS |
Corrente de fuga do gate |
±100 |
NA |
VDS=0V, VGS=-5~20V |
|||
VTH |
Tensão limiar da porta |
1.8 |
3.0 |
4.5 |
V |
VGS=VDS, ID=380uA |
Fig. 8, 9 |
2.0 |
V |
VGS=VDS, ID=380uA @ TJ=175°C |
|||||
Ron |
Resistência estática de drenagem-fonte ligada |
700 1280 |
910 |
mΩ |
VGS=18V, ID=1A @TJ=25°C @TJ=175°C |
Fig. 4, 5, 6, 7 |
|
950 1450 |
1250 |
mΩ |
VGS=15V, ID=1A @TJ=25°C @TJ=175°C |
||||
Ciss |
Capacitância de entrada |
285 |
PF |
VDS=1000V, VGS=0V, f=1MHz, VAC=25mV |
Fig. 16 |
||
Coss |
Capacitância de saída |
15.3 |
PF |
||||
Crss |
Capacitância de transferência reversa |
2.2 |
PF |
||||
Eoss |
Energia armazenada em Coss |
11 |
μJ |
Fig. 17 |
|||
Qg |
Carga total do gate |
16.5 |
NC |
VDS=1000V, ID=1A, VGS=-5 a 18V |
Fig. 18 |
||
Qgs |
Carga gate-source |
2.7 |
NC |
||||
Qgd |
Carga de grade-dreno |
12.5 |
NC |
||||
Rg |
Resistência de entrada de grade |
13 |
Ω |
f=1MHz |
|||
EON |
Energia de comutação de ligação |
51.0 |
μJ |
VDS=1000V, ID=2A, VGS=-3,5V a 18V, RG(ext)=10Ω, L=2330μH Tj=25°C |
Fig. 19, 20 |
||
EOFF |
Energia de comutação na desligagem |
17.0 |
μJ |
||||
td( lig ) |
Tempo de atraso na ligação |
4.8 |
NS |
||||
TR |
Tempo de subida |
13.2 |
|||||
td( desl ) |
Tempo de atraso na desligagem |
12.0 |
|||||
TF |
Tempo de Queda |
66.8 |
|||||
EON |
Energia de comutação de ligação |
90.3 |
μJ |
VDS=1000V, ID=2A, VGS=-3.5V a 18V, RG(ext)=10Ω, L=2330μH Tj=175°C |
Fig. 22 |
||
EOFF |
Energia de comutação na desligagem |
22.0 |
μJ |
Símbolo |
Parâmetro |
valor |
unidade |
Condições de Teste |
Nota |
||
Mín. |
Typ. |
- Max, não. |
|||||
VSD |
Tensão direta do diodo |
4.0 |
V |
ISD=1A, VGS=0V |
Fig. 10, 11, 12 |
||
3.8 |
V |
ISD=1A, VGS=0V, TJ=175°C |
|||||
é |
Corrente contínua do diodo |
11.8 |
A |
VGS=-2V, TC=25°C |
|||
6.8 |
A |
VGS=-2V, TC=100°C |
|||||
trr |
Tempo de recuperação reversa |
20.6 |
NS |
VGS=-3.5V/+18V, ISD=2A, VR=1000V, RG(ext)=10Ω L=2330μH di/dt=5000A/μs |
|||
Qrr |
Carga de recuperação reversa |
54.2 |
NC |
||||
IRRM |
Corrente de recuperação reversa pico |
8.2 |
A |