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SiC MOSFET

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SiC MOSFET

1200V 30mΩ Gen2 Automotive SiC MOSFET
1200V 30mΩ Gen2 Automotive SiC MOSFET

1200V 30mΩ Gen2 Automotive SiC MOSFET

  • Introdução

Introdução
Local de Origem: Zhejiang
Nome da Marca: Inventchip Technology
Número do Modelo: IV2Q12030D7Z
Certificação: AEC-Q101 qualificado


Recursos

  • Tecnologia de MOSFET de SiC de 2ª Geração com+18V de condução no gate

  • Alta tensão de bloqueio com baixa resistência de ligação

  • Comutação de alta velocidade com baixa capacitância

  • Capacidade elevada de temperatura de junção operacional

  • Diodo intrínseco muito rápido e robusto

  • Entrada de gate Kelvin facilitando o design do circuito do driver

Aplicações

  • Controladores de motor

  • Inversores solares

  • Conversores DC/DC automotivos

  • Inversores de compressores automotivos

  • Fontes de Alimentação em Modo de Comutação


Esquema:

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Diagrama de Marcação:

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Classificações Máximas Absolutas (TC=25°C a menos que especificado diferentemente)

Símbolo Parâmetro valor unidade Condições de Teste Nota
VDS Voltagem Drain-Source 1200V VGS =0V, ID =100μA
VGSmax (CC) tensão dc máxima -5 a 20 V Estático (CC)
VGSmax (Pico) Tensão de pico máxima -10 a 23 V Ciclo de trabalho<1%, e largura do pulso<200ns
VGSon Voltagem de ligação recomendada 18±0,5 V
VGSoff Voltagem de desligamento recomendada -3,5 a -2 V
Identificação Corrente de drenagem (contínua) 79A VGS = 18V, TC = 25°C Fig. 23
58A VGS = 18V, TC = 100°C
IDM Corrente de drenagem (em pulsos) 198A Largura de pulso limitada pelo SOA Fig. 26
Ptot Dissipação total de potência 395W TC = 25°C Fig. 24
Tstg Intervalo de temperatura de armazenamento -55 a 175 °C
Tj Temperatura de junção operacional -55 a 175 °C
TL Temperatura de solda 260°C soldagem por onda permitida apenas nos terminais, 1,6 mm do caso por 10 s


Dados Térmicos

Símbolo Parâmetro valor unidade Nota
Rθ(J-C) Resistência Térmica da Junção ao Caso 0.38°C/W Fig. 23


Características Elétricas (TC = 25°C a menos que especificado em contrário)

Símbolo Parâmetro valor unidade Condições de Teste Nota
Mín. Typ. - Max, não.
IDSS Corrente de drenagem com tensão zero no gate 5100μA VDS =1200V, VGS =0V
IGSS Corrente de fuga do gate ±100 NA VDS =0V, VGS = -5~20V
VTH Tensão limiar da porta 1.82.84.5V VGS=VDS , ID =12mA Fig. 8, 9
2.0VGS=VDS , ID =12mA @ TJ =175。C
Ron Resistência estática de drenagem-fonte ligada 3039VGS =18V, ID =30A @TJ =25。C Fig. 4, 5, 6, 7
55VGS =18V, ID =30A @TJ =175。C
3647VGS =15V, ID =30A @TJ =25。C
58VGS =15V, ID =30A @TJ =175。C
Ciss Capacitância de entrada 3000PF VDS=800V, VGS =0V, f=1MHz, VAC=25mV Fig. 16
Coss Capacitância de saída 140PF
Crss Capacitância de transferência reversa 7.7PF
Eoss Energia armazenada em Coss 57μJ Fig. 17
Qg Carga total do gate 135NC VDS = 800V, ID = 40A, VGS = -3 a 18V Fig. 18
Qgs Carga gate-source 36.8NC
Qgd Carga de grade-dreno 45.3NC
Rg Resistência de entrada de grade 2.3Ω f=1MHz
EON Energia de comutação de ligação 856.6μJ VDS =800V, ID =40A, VGS =-3,5 a 18V, RG(ext) =3,3Ω, L=200μH TJ =25。C Fig. 19, 20
EOFF Energia de comutação na desligagem 118.0μJ
td( lig ) Tempo de atraso na ligação 15.4NS
TR Tempo de subida 24.6
td( desl ) Tempo de atraso na desligagem 28.6
TF Tempo de Queda 13.6


Características do Diodo Reverso (TC = 25°C a menos que especificado em contrário)

Símbolo Parâmetro valor unidade Condições de Teste Nota
Mín. Typ. - Max, não.
VSD Tensão direta do diodo 4.2V ISD =30A, VGS =0V Fig. 10, 11, 12
4.0V ISD =30A, VGS =0V, TJ =175。C
trr Tempo de recuperação reversa 54.8NS VGS=-3.5V/+18V, ISD =40A, VR =800V, RG(ext) =13Ω L=200μH di/dt=3000A/μs
Qrr Carga de recuperação reversa 470.7NC
IRRM Corrente de recuperação reversa pico 20.3A


Desempenho Típico (curvas)

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