Lugar de origen: | Shanghai |
Marca: | Tecnología Inventchip |
Número de modelo: | IV2Q12040T4Z |
Titulación: | AEC-Q101 |
Caracteristicas
2ndTecnología MOSFET de generación SiC con
+15~+18V accionamiento de puerta
Alto voltaje de bloqueo con baja resistencia
Conmutación de alta velocidad con baja capacitancia
Capacidad de temperatura de unión operativa de 175 °C
Diodo de cuerpo intrínseco ultrarrápido y robusto
La entrada de puerta Kelvin facilita el diseño del circuito del controlador
AEC-Q101 calificado
Aplicaciones
Cargadores de vehículos eléctricos y OBC
Impulsores solares
Inversores de compresores para automóviles
Fuentes de alimentación de CA/CC
Esquema:
Diagrama de marcado:
Índices absolutos máximos(TC=25°C a menos que se especifique lo contrario)
Símbolo | Parámetro | Value alto | Unidad | Condiciónes de la prueba | Nota |
VDS | Voltaje drenaje-fuente | 1200 | V | VGS = 0 V, ID = 100 μA | |
VGSmáx (transitorio) | Tensión transitoria máxima | -10 a 23 | V | Ciclo de trabajo <1% y ancho de pulso <200 ns | |
VGSon | Voltaje de encendido recomendado | 15 hasta 18 | V | ||
VGS apagado | Voltaje de apagado recomendado | -5 a -2 | V | Típico -3.5 V | |
ID | Corriente de drenaje (continua) | 65 | A | VGS = 18 V, TC = 25 °C | Figura 23 |
48 | A | VGS = 18 V, TC = 100 °C | |||
IDM | Corriente de drenaje (pulsada) | 162 | A | Ancho de pulso limitado por SOA y Rθ(JC) dinámico | Figuras 25, 26 |
ISM | Corriente del diodo del cuerpo (pulsada) | 162 | A | Ancho de pulso limitado por SOA y Rθ(JC) dinámico | Figuras 25, 26 |
PTO | Disipación total de la energía | 375 | W | CT = 25°C | Figura 24 |
TSTG | Rango de temperatura de almacenamiento | -55 a 175 | ° C | ||
TJ | Temperatura de unión de funcionamiento | -55 a 175 | ° C | ||
TL | Temperatura de soldadura | 260 | ° C | La soldadura por ola solo se permite en cables, a 1.6 mm de la caja durante 10 s. |
Datos termales
Símbolo | Parámetro | Value alto | Unidad | Nota |
Rθ(JC) | Resistencia térmica desde la unión hasta la caja | 0.4 | ° C / W | Figura 25 |
Características eléctricas (TC = 25。C a menos que se especifique lo contrario)
Símbolo | Parámetro | Value alto | Unidad | Condiciónes de la prueba | Nota | ||
Min. | Tipo. | Max. | |||||
IDSS | Corriente de drenaje de voltaje de puerta cero | 5 | 100 | µA | VDS = 1200 V, VGS = 0 V | ||
IGSS | Corriente de fuga de puerta | ± 100 | nA | VDS = 0V, VGS = -5~20V | |||
TARJETA VTH | Voltaje de umbral | 1.8 | 2.8 | 4.5 | V | VGS = VDS, ID = 9 mA | Figuras 8, 9 |
2.1 | VGS =VDS, ID =9mA @ TJ =175。C | ||||||
RON | Drenaje estático-fuente encendida - resistencia | 40 | 52 | mΩ | VGS = 18 V, ID = 20 A @TJ = 25。C | Figuras 4, 5, 6, 7 | |
75 | mΩ | VGS = 18 V, ID = 20 A @TJ = 175。C | |||||
50 | 65 | mΩ | VGS = 15 V, ID = 20 A @TJ = 25。C | ||||
80 | mΩ | VGS = 15 V, ID = 20 A @TJ = 175。C | |||||
Ciss | Capacitancia de entrada | 2160 | pF | VDS=800V, VGS=0V, f=1MHz, VCA=25mV | Figura 16 | ||
coss | Capacitancia de salida | 100 | pF | ||||
crss | capacitancia de transferencia inversa | 5.8 | pF | ||||
Eoss | Coss energía almacenada | 40 | µJ | Figura 17 | |||
Qg | Cargo total de puerta | 110 | nC | VDS = 800 V, ID = 30 A, VGS = -3 a 18 V | Figura 18 | ||
preguntas | Carga de fuente de puerta | 25 | nC | ||||
Qgd | Carga de drenaje de compuerta | 59 | nC | ||||
Rg | Resistencia de entrada de puerta | 2.1 | Ω | f=1MHz | |||
EON | Encender la energía de conmutación | 446.3 | µJ | VDS =800V, ID =30A, VGS =-3.5 to 18V, RG(ext) =3.3Ω, L=200μH TJ =25。C | Figuras 19, 20 | ||
E-OFF | Apagar la energía de conmutación | 70.0 | µJ | ||||
td (encendido) | Tiempo de retardo de encendido | 9.6 | ns | ||||
tr | Hora de levantarse | 22.1 | |||||
td (apagado) | Tiempo de retraso de apagado | 19.3 | |||||
tf | Otoño | 10.5 | |||||
EON | Encender la energía de conmutación | 644.4 | µJ | VDS =800V, ID =30A, VGS =-3.5 to 18V, RG(ext) =3.3Ω,L=200μH TJ =175。C | Figura 22 | ||
E-OFF | Apagar la energía de conmutación | 73.8 | µJ |
Características del diodo inverso (TC = 25。C a menos que se especifique lo contrario)
Símbolo | Parámetro | Value alto | Unidad | Condiciónes de la prueba | Nota | ||
Min. | Tipo. | Max. | |||||
VSD | Tensión directa del diodo | 4.2 | V | ISD = 20 A, VGS = 0 V | Figuras 10, 11, 12 | ||
4.0 | V | ISD =20A, VGS =0V, TJ =175。C | |||||
IS | Corriente directa del diodo (continua) | 63 | A | VGS =-2V, TC =25。C | |||
36 | A | VGS =-2V, TC=100。C | |||||
trr | Tiempo de recuperación inverso | 42.0 | ns | VGS=-3.5V/+18V, ISD =30A, VR =800V, RG(ext) =10Ω L=200μH di/dt=3000A/μs | |||
qrr | Cargo de recuperación inversa | 198.1 | nC | ||||
IRRM | Corriente máxima de recuperación inversa | 17.4 | A |
Rendimiento típico (curvas)
Dimensiones del paquete
Nota:
1. Referencia del paquete: JEDEC TO247, variación AD
2. Todas las dimensiones están en mm.
3. Se requiere ranura, la muesca puede ser redondeada
4. Las dimensiones D y E no incluyen la rebaba del molde
5. Sujeto a cambios sin previo aviso