Alle Kategorien
KONTAKTIEREN SIE UNS
SiC MOSFET

Startseite /  Produkte  /  Komponenten /  SiC MOSFET

SiC MOSFET

1200V 30mΩ Gen2 Automobil-SiC MOSFET
1200V 30mΩ Gen2 Automobil-SiC MOSFET

1200V 30mΩ Gen2 Automobil-SiC MOSFET

  • Einführung

Einführung
Herkunftsort: Zhejiang
Markenname: Inventchip Technology
Modellnummer: IV2Q12030D7Z
Zertifizierung: AEC-Q101 zertifiziert


Merkmale

  • 2. Generation SiC MOSFET-Technologie mit +18V Gatteransteuerung

  • Hohe Sperrspannung bei niedrigem Einschaltwiderstand

  • Hochgeschwindigkeitswechsel mit geringer Kapazität

  • Hohe Betriebstemperaturfähigkeit

  • Sehr schnelle und robuste interne Body-Diode

  • Kelvin-Gatter-Eingang erleichtert die Schaltungsentwicklung

Anwendungen

  • Motorantriebe

  • Solarumrichter

  • Automobil-DC/DC-Wandler

  • Automobil-Kompressoreinverter

  • Schaltnetzteile


Übersicht:

image

Kennzeichnungsdiagramm:

image

Absolute maximale Bewertungen (TC=25°C, es sei denn, anders spezifiziert)

Symbol Parameter Wert Einheit Prüfbedingungen Hinweis
VDS Dreckschlepp-Spannung 1200v VGS =0V, ID =100μA
VGSmax (Gleichstrom) maximale Gleichspannung -5 bis 20 v Statisch (Gleichstrom)
VGSmax (Spike) Maximale Spikespannung -10 bis 23 v Tastverhältnis <1%, und Impulsdauer <200ns
VGSon Empfohlene Einschaltspannung 18±0,5 v
VGSoff Empfohlene Ausschaltspannung -3,5 bis -2 v
Identifizierung Drehschwingung (kontinuierlich) 79Ein VGS =18V, TC =25°C Abb. 23
58Ein VGS =18V, TC =100°C
IDM Drehschaltstrom (gepulst) 198Ein Pulsbreite durch SOA begrenzt Abb. 26
Ptot Gesamtleistungsverlust 395W TC =25°C Abb. 24
Tstg Lagerungstemperaturbereich -55 bis 175 °C
Tj Betriebstemperatur der Leiterplatte -55 bis 175 °C
TL Löttemperatur 260°C Wellenlötverfahren nur an den Anschlussleitungen, 1.6mm vom Gehäuse entfernt für 10 s


Thermaldaten

Symbol Parameter Wert Einheit Hinweis
Rθ(J-C) Thermischer Widerstand von der Leistungshalbleiter-Junction zum Gehäuse 0.38°C/W Abb. 23


Elektrische Eigenschaften (TC =25。C, es sei denn, anders spezifiziert)

Symbol Parameter Wert Einheit Prüfbedingungen Hinweis
Min. - Das ist typisch. Max.
IDSS Durchflussstrom bei null Gate-Spannung 5100μA VDS =1200V, VGS =0V
IGSS Durchlässigkeit des Tores ±100 NA VDS =0V, VGS = -5~20V
VTH Schrankschwellenspannung 1.82.84.5v VGS=VDS , ID =12mA Abb. 8, 9
2.0VGS=VDS , ID =12mA @ TJ =175。C
Ron Statische Drain-Source-Ein-Widerstand 3039VGS =18V, ID =30A @TJ =25。C Abb. 4, 5, 6, 7
55VGS =18V, ID =30A @TJ =175。C
3647VGS =15V, ID =30A @TJ =25。C
58VGS =15V, ID =30A @TJ =175。C
Ciss Eingangskapazität 3000PF VDS=800V, VGS =0V, f=1MHz, VAC=25mV Abb. 16
Coss Ausgangskapazität 140PF
Crss Rückwärtsübertragungs-Kapazität 7.7PF
Eoss Coss gespeicherte Energie 57μJ Abb. 17
QG Gesamtgate Ladung 135nC VDS =800V, ID =40A, VGS =-3 bis 18V Abb. 18
Qgs Gitter-Quell-Ladung 36.8nC
Qgd Gitter-Drain-Ladung 45.3nC
Rg Gitter-Eingangswiderstand 2.3Ω f=1MHz
EON Einschalt-Schaltenergie 856.6μJ VDS =800V, ID =40A, VGS =-3,5 bis 18V, RG(ext) =3,3Ω, L=200μH TJ =25°C Abb. 19, 20
EOFF Ausschalt-Schaltenergie 118.0μJ
Die Daten sind nicht verfügbar. Verzögerungszeit der Einleitung 15.4NS
Tr Aufstiegszeit 24.6
Td (ausgeschaltet) Verzögerungszeit für die Abschaltung 28.6
TF Herbstzeit 13.6


Rücklaufdiodencharakteristiken (TC =25。C, es sei denn, anders spezifiziert)

Symbol Parameter Wert Einheit Prüfbedingungen Hinweis
Min. - Das ist typisch. Max.
VSD Diodenvorwärtsspannung 4.2v ISD =30A, VGS =0V Abb. 10, 11, 12
4.0v ISD =30A, VGS =0V, TJ =175°C
trr Rückwärts-Rückgewinnungszeit 54.8NS VGS=-3,5V/+18V, ISD =40A, VR =800V, RG(ext) =13Ω L=200μH di/dt=3000A/μs
Qrr Rückwärts-Rückgewinnungsladung 470.7nC
IRRM Spitzenwert des Rücklaufstroms 20.3Ein


Typische Leistung (Kurven)

image

image

image

image

image

image

image

image

image


VERWANDTES PRODUKT